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首先，现代高性能芯片可集成数十亿晶体管，但微型化使故障诊断愈发困难。卡拉佩强解释道："现今晶体管通道宽度仅约15-18个原子，结构极其精密。每个原子的位置都至关重要，这给表征工作带来巨大挑战。"
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其次，穆勒教授形象地解释："晶体管如同输送电子的微观管道。若管壁粗糙不平，会显著阻碍电子传输。因此精准测量管壁粗糙度、辨识结构优劣变得至关重要。"
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